纳米压痕过程的多尺度模拟与Rice-Thomson位错模型分析

• 作者: 倪玉山 黎军顽
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 多尺度模拟 纳米压痕 准连续介质法 R-T位错模型 尺寸效应
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 2095-2100
• 分类号: TG115.5+1|TG111
• 字数: 3266字
• 语种: 中文

摘要

采用多尺度准连续介质法(简称QC方法)对单晶Ag薄膜纳米压痕过程进行模拟,研究压头宽度对纳米压痕过程中接触应力分布、位错形核临界载荷以及纳米硬度的影响,并用Rice-Thomson位错模型(简称R-T位错模型)进行分析.结果表明,纳米压痕获得的载荷.位移曲线呈现出的不连续性与位错之间的协同作用密切相关;压头尺寸对纳米压痕过程中接触应力分布、位错形核临界载荷以及纳米硬度具有明显的影响:随着压头宽度的增加,法向和切向接触应力以及纳米硬度值递减,呈现出明显的压头尺寸效应;而压头下方薄膜内位错形核临界载荷却递增,且与压头半宽度的平方根成正比.模拟结果与相应实验结果以及R-T位错模型计算结果吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎军顽		5	27	4.0	5.0
2	倪玉山		27	303	9.0	17.0