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The Research of Thickness Measurement Base on γ- Ray Compton Backscattering
The Research of Thickness Measurement Base on γ- Ray Compton Backscattering
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摘要：
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文献信息
| 篇名 | The Research of Thickness Measurement Base on γ- Ray Compton Backscattering | ||
| 来源期刊 | 中国原子能科学研究院年报：英文版 | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | 康普顿后向散射 射线源 基础研究 厚度测量 康普顿散射 传输方法 工业应用 射线测量 | ||
| 年，卷（期） | zgyznkxyjynbywb_2010,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 346-347 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | O434.1 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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康普顿后向散射
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康普顿散射
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中国原子能科学研究院年报：英文版
主办单位：
原子能出版社
出版周期：
年刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
北京市海淀区阜成路43号
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创刊时间：
语种：
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