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摘要:
对本底靶进行热处理后用TiT源重新开展打靶实验,未知谱线消失,证明未知谱线不是由靶中杂质造成的.将同种材料制成的两块本底靶分别进行热处理和不做任何处理,置于氢气放电源中进行照射生成源照靶,用TiT源打这两块源照靶发现照射前经热处理的靶产生的4条未知谱线较强,证明热处理能够增强靶吸附未知粒子的能力.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 热处理对氢气放电实验用靶的影响
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 本底靶 源照靶 TiT源 热处理
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2177-2180
页数 分类号 O461.1
字数 3030字 语种 中文
DOI 10.3788/HPLPB20102209.2177
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩子杰 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 12 9 2.0 2.0
2 王大伦 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 17 43 4.0 6.0
3 秦建国 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 13 30 3.0 5.0
4 赖财峰 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 1 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
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源照靶
TiT源
热处理
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强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
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