关于智能卡的自动化测试平台设计

• 作者: 王景存 苏鹏
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: PC/SC 读/写器 智能卡 TCL命令 ATP语言 应用协议数据单元
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 89-91
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.04.028

摘要

传统的智能卡测试平台需要人工干预,严重影响测试效率,因此难以满足智能卡行业的测试需求.针对这个问题,在此提出一种新的解决方案.该方案以PC/SC为编程接口,实现了测试平台与智能卡的通信,利用扩展的TCL解释器定义了一种新的测试语言ATP,它包含TCL内置命令和应用程序的相关命令.测试人员可以利用ATP语言编写测试用例,在此平台上完成对智能卡的自动化测试.该方案已经得到实际验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王景存	武汉科技大学冶金自动化与检测技术教育部工程研究中心	46	338	10.0	16.0
5	苏鹏	武汉科技大学冶金自动化与检测技术教育部工程研究中心	2	52	2.0	2.0