有效消减测试成本的并行技术分析

• 作者: 张虹 王敏 闫鹏
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 测试成本 低成本ATE 并行测试
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 13-15,27
• 分类号: TM93
• 字数: 2564字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.004

摘要

文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法.文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失.