大口径光学元件功率谱密度的统计法测量

• 作者: 徐建程 柴立群 许乔
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 功率谱密度 统计理论 大口径光学元件 子孔径拼接
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 1905-1908
• 分类号: O436.1
• 字数: 1731字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB201002208.1905

摘要

针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法.该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积.模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好.统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许乔		82	1074	17.0	27.0
2	徐建程	浙江师范大学信息光学研究所	20	191	9.0	13.0
4	柴立群		32	329	12.0	16.0