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摘要:
测量了采用离子注入法得到掺N的n-Sic晶体从100-450 K的拉曼光谱.研究了SiC一级拉曼谱、电子拉曼散射谱及二级拉曼谱的温度效应.实验结果表明,大部分SiC一级拉曼峰会随温度升高向低波数方向移动,但声学模红移(峰值位置向低频方向移动)的幅度较光学模小.重掺杂4H-SiC的纵光学声子等离子体激元耦合(LOPC)模频率随温度升高表现出先蓝移(峰值位置向高频方向移动)后红移的变化趋势,表明LOPC模的温度特性不仅会受到非简谐效应的影响,还与实际已离化杂质浓度有关.电子拉曼散射峰线宽随温度升高而增大,强度随温度升高而减弱,但其峰值位置基本不变.二级拉曼谱的红移不如一级拉曼谱明显,但其峰值强度却随着温度的升高显示出明显下降的趋势.
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文献信息
篇名 n-SiC拉曼散射光谱的温度特性
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 碳化硅 温度 纵光学声子等离子体激元耦合模 电子拉曼散射
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 4261-4266
页数 分类号 O4
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨银堂 西安电子科技大学微电子学院 420 2932 23.0 32.0
2 樊晓桠 西北工业大学计算机学院航空微电子中心 170 1393 17.0 29.0
3 韩茹 西北工业大学计算机学院航空微电子中心 4 22 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
碳化硅
温度
纵光学声子等离子体激元耦合模
电子拉曼散射
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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