液晶光电参数测量方法的统计分析

• 作者: 李永忠 纪伟丰 黄晓炀 黄琛
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: SPC统计分析 液晶 光电参数 测量方法
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 39-41
• 分类号: TN141.9
• 字数: 1281字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6268.2011.07.014

摘要

文章通过SPC统计方法,对三种不同的液晶光电参数（简称为EO）测量方法进行统计分析和比较,选择最好的液晶光电参数测量方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李永忠		14	88	6.0	9.0
2	黄琛		4	0	0.0	0.0
3	纪伟丰		6	29	2.0	5.0
4	黄晓炀		2	0	0.0	0.0