基于统计分析的PCB组装缺陷特征学习方法

• 作者: 杨锦荣 欧阳高飞 洪始良 谢宏威 邝泳聪
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 自动光学检测 统计学习 贝叶斯决策 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 图形图像技术
• 页码范围: 775-777,783
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2010.02.105

摘要

为了减少自动光学检测系统对用户经验的依赖,提出了一种基于统计分析的PCB组装缺陷特征学习方法.该方法通过对良品和不良品样本图像的统计学习优选出分类能力强的特征,再采用最小风险贝叶斯决策得到特征分类参数.实验结果表明,该算法有效地简化了用户检测程序的编程和调试,提高了AOI的使用效率和准确率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝泳聪	华南理工大学机械与汽车工程学院	56	348	11.0	15.0
2	欧阳高飞	华南理工大学机械与汽车工程学院	23	205	9.0	13.0
3	杨锦荣	华南理工大学机械与汽车工程学院	3	3	1.0	1.0
4	洪始良	华南理工大学机械与汽车工程学院	11	63	5.0	7.0
5	谢宏威	华南理工大学机械与汽车工程学院	10	69	4.0	8.0