基于随机理论的RAID可靠性仿真方法

• 作者: 刘军平 周可 庞丽萍 雷栋梁
• 来源期刊: 计算机研究与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 廉价冗余磁盘阵列 可靠性 仿真
• 年，卷（期）: 2011,（z1）
• 所属期刊栏目: 存储系统的可靠性和数据安全技术
• 页码范围: 12-16
• 分类号: TP333
• 字数: 3560字
• 语种: 中文

摘要

廉价冗余磁盘阵列(RAID)的可靠性是一个研究热点.当磁盘的失效率符合泊松同分布时,可以利用一般的可靠性理论来计算磁盘阵列的可靠性.然而,当磁盘的失效率分布不符合泊松同分布时,继续利用传统的可靠性评估理论来评估RAID的可靠性就显得不太合适.提出了一种基于蒙特卡洛随机仿真的可靠性仿真方法来评估RAID的可靠性.首先假设磁盘的失效率符合Weibull分布,分析了RAID阵列在整个生命周期中的不同状态；其次,采样不同状态转移间的概率,并且仿真RAID阵列的时序行为；最后,记录仿真过程中的可靠性评估指标.为了验证仿真方法,做了两个实验来比较磁盘失效率分别满足Weibull分布和泊松同分布时的可靠性指标.实验结果显示理论值和仿真值之间的偏差是2％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庞丽萍	华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室	37	383	11.0	18.0
2	刘军平	华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室	2	37	2.0	2.0
3	周可	华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室	29	396	7.0	19.0
4	雷栋梁	华中科技大学计算机学院武汉光电国家实验室	1	3	1.0	1.0