CCD位数和光圈大小对采样信号质量影响的研究

• 作者: 卢超 吴徐平 罗涛 袁仁民
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 CCD 采样位数 光圈 标准差 功率谱
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 图像与信息处理
• 页码范围: 654-659
• 分类号: TN201
• 字数: 3983字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2011.06.003

摘要

类似CCD这样记录二维信息的传感器在诸多研究领域都有重要的应用.CCD的位数是涉及信号质量、价格和数据传输速度等方面的一个重要指标.CCD光圈也是影响信号质量的一个重要因素.采用数值模拟的方法,从信号的标准差和功率谱的角度讨论了CCD的采样位数和光圈调整对信号保真的影响,并给出了CCD的最佳工作状态图.结果表明,4位和6位CCD采样信号失真较大,而8位CCD,只有操作得当,才可以和12位CCD一样不失真地反映出真实的信号信息.根据模拟结果得出CCD的最佳工作状态图,为CCD的采集提供了很好的理论指导,有一定现实意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁仁民	中国科学技术大学地球与空间科学学院	37	426	12.0	19.0
2	罗涛	中国科学技术大学地球与空间科学学院	42	260	9.0	13.0
3	吴徐平	中国科学技术大学地球与空间科学学院	8	6	2.0	2.0
7	卢超	中国科学技术大学地球与空间科学学院	6	16	3.0	4.0