X射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用(上)

• 作者: 马竹梧
• 来源期刊: 冶金自动化
• 学科: 工学
• 关键词: X射线测厚仪 厚度控制 板形
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 1-5
• 分类号: TH744.15
• 字数: 5622字
• 语种: 中文

摘要

主要叙述X射线测厚仪的工作原理,分析射线强度、统计误差以及被测物的材质、温度、表面附着水层、倾斜角度等对测厚精度的影响及其克服方法.叙述包括X射线管、检测元件、控制电路、测量方式以及计算机应用等的进展.最后介绍X射线测厚仪的组成、主要性能的实例和在国内的使用情况,说明建立X射线测厚仪产业的必要性并给出建立方法的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马竹梧		48	362	9.0	18.0