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摘要:
电子总含量(TEC)是电离层探测的主要参量之一,作为层析(CT)的输入参量,TEC测量精度直接影响电离层CT成像的结果.过去主要采用双频信标测量TEC,由于相位积分常数的求解、系统硬件延迟等误差,使得TEC测量结果不能满足电离层CT高精度重建成像的要求.三频相干信标技术的出现,使得电离层天基测量技术有了新的发展.提出了基于三频信标的传播时延-相位联合测量反演TEC的方法,融合三频信标在电子密度随机起伏探测和相位积分常数计算两方面的优势,进一步提高了TEC的测量精度.模拟结果显示利用此方法的三频信标TEC测量结果提高了电离层CT的精度.
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文献信息
篇名 三频信标高精度TEC测量新方法
来源期刊 空间科学学报 学科 地球科学
关键词 电离层探测 三频信标 双频信标 TEC 电离层CT成像
年,卷(期) 2011,(2) 所属期刊栏目 日球层物理太阳系探测
研究方向 页码范围 201-207
页数 分类号 P35
字数 4243字 语种 中文
DOI
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1981
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