介质阻挡放电诱导化学蒸气发生-ICP-OES测定痕量Se(IV)

• 作者: 吴曦 朱晓帆 杨武琳
• 来源期刊: 化学研究与应用
• 学科: 化学
• 关键词: 硒(Se) 介质阻挡放电(DBD) 电感藕合等离子体原子发射光谱分析法(ICP-OES ) 化学蒸气发生(CVG)
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 新技术与应用
• 页码范围: 644-648
• 分类号: O657.31
• 字数: 1659字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1656.2011.05.028

摘要

本文将介质阻挡放电诱导化学蒸气发生与电感耦合等离子体原子发射光谱分析法联用,用于痕量Se(IV)的选择性测定.考察了介质阻挡放电诱导化学蒸气发生的主要影响因素.在最优的实验条件下,甲酸浓度为15%时,本方法对Se(IV)的检出限(3σ)为6μg·L-1,测定100μg·L-1 Se(IV)溶液的相对标准偏差(n=11)为3.4%.该方法成功应用于多种水样中Se(1V)的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱晓帆	四川大学分析测试中心	37	717	14.0	26.0
2	吴曦	四川大学分析测试中心	5	13	3.0	3.0
3	杨武琳	四川大学分析测试中心	1	5	1.0	1.0