粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法在钼矿石测定中的应用

• 作者: 张勇 王春生 罗学辉 陈占生
• 来源期刊: 黄金科学技术
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末压片 波长X射线荧光光谱 钼矿石 伴生元素
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 技术前沿
• 页码范围: 78-80
• 分类号: O657.34
• 字数: 1769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-2518.2011.02.016

摘要

试样用高密度聚乙烯干粉镶边衬底压片,波长色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中Mo及其伴生元素W、Sn、Cu、Pb、Zn、Bi的含量.根据我国钼矿品位的特点,选择国家标样与某一大型钼矿样品相结合的办法建立校准曲线,钼测量范围为0.03%～1.51%,采取经验系数法对基体效应进行校正.选一试样11次压片测定.各成分结果的相对标准偏差<1%,用该方法测定某一大型钼矿样品,其结果与其他单位湿法结果对比,具有良好的一致性,主量及伴生元素结果与标样认定值比对结果理想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勇		18	121	7.0	10.0
2	罗学辉		8	39	4.0	6.0
3	王春生		9	28	3.0	5.0
4	陈占生		11	76	6.0	8.0