原文服务方: 自动化与仪表       
摘要:
陶瓷绝缘子具有良好的防污特性,但也会发生污秽闪络,导致供电中断.文中分析了污闪的形成机理,认为绝缘子泄漏电流有效值和放电脉冲数可在一定程度上反映出其表面的污秽程度,从而可通过监测泄漏电流值及电脉冲数的方法来有效避免污闪事故的发生.现有的监测装置一般只监测泄漏电流值或电脉冲数中的一项参数,且其功耗和性能都难以达到实用要求,为此,该文设计了一种基于ARM Cortex控制器及Zigbee无线网络的高压绝缘子泄漏电流在线监测系统,系统实时采集绝缘子表面泄漏电流、电脉冲数及环境温湿度,同时分析绝缘子表面污秽度,并将分析结果显示在LCD上或通过Zigbee网络发送给控制中心.试验表明,该监测系统具有较好的测量精度和良好的实用性能.
推荐文章
绝缘子泄漏电流试验研究和线路运行能耗探讨
绝缘子
泄漏电流
损耗功率
能耗
经济损失
基于泄漏电流的复合绝缘子憎水性能诊断技术
复合绝缘子
泄漏电流
污秽度
憎水性能
聚类分析法
基于HHT的绝缘子泄漏电流分析及放电状态分类识别
绝缘子
泄漏电流
Hilbert-Huang变换
主成分分析法
最小二乘支持向量机
分类识别
绝缘子泄漏电流在线监测系统的设计与应用
绝缘子
泄漏电流
采集环
误差
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 基于ARM的绝缘子泄漏电流在线监测系统设计
来源期刊 自动化与仪表 学科
关键词 污秽绝缘子 泄漏电流 污闪脉冲 ARM Cortex
年,卷(期) 2011,(9) 所属期刊栏目 创意与实践
研究方向 页码范围 51-54
页数 分类号 TP23
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-9944.2011.09.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡晓光 北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院 47 936 15.0 30.0
2 姜小丰 北京航空航天大学中法工程师学院 1 7 1.0 1.0
3 左廷涛 北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院 1 7 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (34)
共引文献  (229)
参考文献  (10)
节点文献
引证文献  (7)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1989(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1990(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1993(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1994(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
1995(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1997(5)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(3)
1998(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2000(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2001(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2002(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2003(5)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(4)
2004(4)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(2)
2005(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2006(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2007(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2011(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2014(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2015(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2016(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2018(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2019(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
污秽绝缘子
泄漏电流
污闪脉冲
ARM Cortex
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
自动化与仪表
月刊
1001-9944
12-1148/TP
大16开
1981-01-01
chi
出版文献量(篇)
3994
总下载数(次)
0
总被引数(次)
18195
论文1v1指导