CMOS成像系统亚像元定位精度研究

• 作者: 曾桂英 解源
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS图像传感器 亚像元定位 定位精度 误差分析
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 光电测量与检测
• 页码范围: 69-73,80
• 分类号: TP75
• 字数: 3232字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2011.07.013

摘要

本文构建了基于CMOS图像传感器的高精度定位系统,并且研究光源、被测目标、测量系统与亚像元定位算法等因素对定位精度的影响.研究结果表明:光源与测量环境的稳定性是高精度测量的必要前提与关键因素;带阈值的质心算法对系统白噪声抑制能力基本相同,但对具有一定规律缓慢变化的干扰信号杭干扰能力不同,且带活动阈值的质心算法杭干扰能力最强;根据被测目标与实际误差分布规律选择合适的算法处理,是工程应用中实现高精度亚像元定位的有效保证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解源	集美大学信息工程学院	20	174	8.0	13.0
2	曾桂英	集美大学信息工程学院	7	35	4.0	5.0