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摘要:
The thermal expansion coefficients (TEC) of RuO2 crystallits in thick film resistor (TFR) composites, consisting of RuO2 dispersed in lead-silicate glass of various compositions, were evaluated from X-ray diffraction patterns at temperatures 298;773;973 and 1123 K corresponding to characteristic temperatures of resistivity and thermopower anomalies of the TFRs. It has been found that TEC of free RuO2 powder along a-axis has an anomaly at T > 973 K (expansion is replaced by constriction), whereas constriction along c-axes remains for all temperatures. This anomaly disappears in doped glass of simplest composition (2SiO2.PbO) but occurs in glasses of some complex compositions. Symmetry of unit cell of RuO2 is not changed in the temperature range investigated.
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Amphibole
Silicate glass
Trace elements
Partition coefficients
Lattice strain model
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GT手用锉
根管预备
牙髓腔
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Effect of Glass Composition on the Thermal Expansion of Relict Crystals of RuO<sub>2</sub>in Doped Lead-Silicate Glasses (Thick Film Resistors)
来源期刊 现代物理(英文) 学科 化学
关键词 RUTHENIUM Dioxide ANOMALOUS Thermal Expansion High Temperature X-Ray Diffraction ANOMALIES of RESISTIVITY and Thermopowe
年,卷(期) xdwlyw_2011,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 651-653
页数 3页 分类号 O6
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研究主题发展历程
节点文献
RUTHENIUM
Dioxide
ANOMALOUS
Thermal
Expansion
High
Temperature
X-Ray
Diffraction
ANOMALIES
of
RESISTIVITY
and
Thermopowe
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代物理(英文)
月刊
2153-1196
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
出版文献量(篇)
1826
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