基于形态学处理的太阳能晶片计数研究

• 作者: 方超 杜建洪 谭伟
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 纹理特征 形态学处理 膨胀腐蚀 二值化
• 年，卷（期）: 2011,（20）
• 所属期刊栏目: 图形、图像、模式识别
• 页码范围: 178-180,217
• 分类号: TP391
• 字数: 3606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2011.20.050

摘要

针对工业生产中太阳能晶片人工计数的难以实施,提出了运用数字图像处理技术的自动计数方法.通过对晶片叠层图像的纹理分析,提出了一种二值化计数方法,通过对二值图像的特殊的形态学处理后,得到一幅便于计数的图像.实验结果表明该算法有较高的计数精度,而且算法简单可行,具有实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜建洪	复旦大学信息科学与工程学院通信科学与工程系	19	134	8.0	11.0
2	方超	复旦大学信息科学与工程学院通信科学与工程系	16	170	8.0	13.0
3	谭伟	复旦大学信息科学与工程学院通信科学与工程系	7	44	4.0	6.0