基于纹理特征的太阳能晶片计数研究

• 作者: 方超 杜建洪 谭伟
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 纹理特征 垂直投影 边缘检测 极值点分析
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 信号与信息处理
• 页码范围: 185-189
• 分类号: TN911.73|TP391.41
• 字数: 3564字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2011.02.012

摘要

针对工业生产中太阳能晶片人工计数的难以实施,本文提出了运用数字图像处理技术的自动计数方法.从具体应用角度出发,通过对晶片叠层图像的纹理分析,先用一阶统计量法和边缘检测投影法对晶片区域进行定位,然后通过极值点分析法进行计数.实验结果表明该算法的定位准确度可达到94%以上,计数正确率可以达到95%,而且算法简单可行,具有实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜建洪	复旦大学信息科学与工程学院	19	134	8.0	11.0
2	方超	复旦大学信息科学与工程学院	16	170	8.0	13.0
3	谭伟	复旦大学信息科学与工程学院	7	44	4.0	6.0