基于校正靶特征与Biharmonic样条插值的XRII图像扭曲校正

• 作者: 张权 张鹏程 李元金 杨春山 罗立民
• 来源期刊: 东南大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 校正靶特征 Biharmonic样条 XRⅡ图像 扭曲校正
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 1213-1218
• 分类号: TP391.41
• 字数: 5020字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0505.2011.06.017

摘要

针对扭曲的XRII图像给C臂X光机成像系统实时标定带来不利影响的问题,提出了基于校正靶特征和Biharmonic样条曲面插值相结合的XRII图像扭曲校正方法.在分析校正靶自身特征的基础上,使用Otsu算法与形态学相结合的方法提取了校正靶网格线交叉点坐标,然后拟合提取出的网格线交叉点坐标,最后使用Biharmonic样条曲面插值方法校正扭曲的XRII图像.实验结果表明,使用由Otsu算法与形态学相结合的方法提取的校正靶网格线交叉点坐标值与理想校正靶网格线交叉点坐标值的残留误差和标准误差分别为10.489 0±0.074 0和4.263 2±0.015 0,然而使用Biharmonic样条曲面插值校正之后残留误差和标准误差分别降低至(7.121 85±3.354 15) ×10-13和(3.915 1±1.862 7)×10-13.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗立民	东南大学影像与科学技术实验室	246	2011	23.0	31.0
2	张权	东南大学影像与科学技术实验室	16	234	7.0	15.0
3	李元金	东南大学影像与科学技术实验室	24	39	4.0	4.0
5	张鹏程	东南大学影像与科学技术实验室	12	61	5.0	7.0
8	杨春山	东南大学影像与科学技术实验室	3	14	3.0	3.0