半导体级别故障预测与健康管理

• 作者: 王浩 罗宏伟 陈媛
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 故障预测与健康管理 半导体产品 预兆单元 失效先兆
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 58-62
• 分类号: TB114.39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2011.05.013

摘要

随着集成电路特征尺寸按比例缩小,其可靠性问题越来越突出.为了避免因集成电路失效而发生灾难性后果,有必要对集成电路进行故障预测与健康管理.首先,介绍了故障预测与健康管理技术的发展概况；然后,阐述了实施半导体级别故障预测与健康管理的两个主要方法:预兆单元法和失效先兆监测推理法,并根据相关案例进行了分析；最后,指出了该技术面临的挑战.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗宏伟		12	65	5.0	7.0
5	王浩	广东工业大学材料与能源学院	12	44	5.0	5.0
14	陈媛		3	6	1.0	2.0