基于相关性模型的电路板TPS开发与验证

• 作者: 王学伟 王成刚 蔡士闯
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试程序集 相关性模型 关联矩阵 诊断策略 综合诊断
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 110-113
• 分类号: TP301
• 字数: 3948字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2011.10.029

摘要

用TPS对电路板进行故障检测和维修,是提高新装备维修保障能力的重要环节.对TPS的开发者和最终使用者而言,如何提高TPS开发效率,并对其进行验证已经成为亟需解决的问题.分析了几种TPS验证方法的特点,提出了基于相关性模型的电路板TPS开发和验证方法.从测试性模型建立、关联矩阵生成和诊断策略设计等方面阐述了该过程.对于面向全寿命周期的综合诊断而言,该方法对提高装备综合诊断能力、降低装备维护保障费用具有重要的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王学伟	海军航空工程学院控制工程系	71	526	12.0	18.0
2	王成刚	北京理工大学光电学院	54	429	10.0	17.0
4	蔡士闯	海军航空工程学院控制工程系	5	12	3.0	3.0