基于CPLD＋FLASH的多通道测试记录仪

• 作者: 吴建 曾强 董刚刚
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: FLASH 存储测试 复杂可编程逻辑器件(CPLD) 高速采集
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 光电系统
• 页码范围: 8-10
• 分类号: TP274
• 字数: 1109字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2011.04.003

摘要

设计了一种基于复杂可编程逻辑器件（complex programmable logic device，CPLD）控制、FLASH MEMORY（闪速大容量存储器）存储的新型存储测试系统。此系统的采样频率最大为1MHz，可灵活选择500kHz、250kHz的不同采样频率，并且系统具有内外触发的功能。实验结果表明，该系统能够准确有效地存储A／D数据的采集。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董刚刚	中北大学信息与通信工程学院	2	11	2.0	2.0
2	曾强	中北大学信息与通信工程学院	15	55	5.0	6.0
3	吴建	中北大学信息与通信工程学院	4	38	3.0	4.0