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摘要:
利用第一原理密度泛函理论计算组装C60形成能和电子结构,用半经典隧穿理论研究了串联C60的电子输运特性.结果显示:六边形对六边形双C60比边对边双C60稳定;库仑阻塞与系统的结构密切相关,并且只有阴极结比阳极结窄时,才会出现库仑阻塞;低温时出现非常明显库仑台阶,温度较高时其被热效应抑制.
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文献信息
篇名 串联组装双C60的电子结构和输运特性
来源期刊 原子与分子物理学报 学科 物理学
关键词 分子物理学 电子输运 库仑阻塞 组装
年,卷(期) 2011,(4) 所属期刊栏目 原子、分子结构与光谱
研究方向 页码范围 625-632
页数 分类号 O561
字数 5286字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0364.2011.04.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡庆平 武汉纺织大学电子与电气工程学院 1 0 0.0 0.0
2 冯艳全 北京理工大学理学院 2 0 0.0 0.0
3 任艳琴 武汉纺织大学电子与电气工程学院 2 0 0.0 0.0
4 陆振帮 武汉纺织大学电子与电气工程学院 2 2 1.0 1.0
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期刊影响力
原子与分子物理学报
双月刊
1000-0364
51-1199/O4
大16开
成都市一环路南一段24号
62-54
1986
chi
出版文献量(篇)
4271
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1
总被引数(次)
10724
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