多通道OLED器件寿命分析测试系统研制

• 作者: 余树福 彭俊彪 王坚 胡典钢
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 有机电致发光二极管 寿命 多通道 LabVIEW 老化测试
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 器件驱动与控制
• 页码范围: 532-537
• 分类号: TN383+.1
• 字数: 2778字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20112604.0532

摘要

研发了一种多通道、多功能的OLED寿命分析测试系统.该系统可以在恒定驱动电流、恒定驱动电压、恒定发光强度3种不同驱动模式下同时对512路OLED器件进行寿命测试,并可实现对测试环境温度和湿度的控制,控制器件老化的环境.测试系统具有高精度和宽测试范围,操作电流范围为0.02～100 mA,操作电压范围为0～24 V.系统采用模块化设计,可以根据用户需求灵活地搭建512,256,128,64,32路测试系统.基于LabVIEW开发环境编写的系统软件具有非常友好的操作界面和断电自保护功能,保证了测试的连续性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭俊彪	华南理工大学高分子光电材料与器件研究所特种功能材料教育部重点实验室	63	524	15.0	20.0
2	余树福	华南理工大学高分子光电材料与器件研究所特种功能材料教育部重点实验室	1	5	1.0	1.0
3	胡典钢	华南理工大学高分子光电材料与器件研究所特种功能材料教育部重点实验室	1	5	1.0	1.0
4	王坚	华南理工大学高分子光电材料与器件研究所特种功能材料教育部重点实验室	4	25	2.0	4.0