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Test your memory
Test your memory
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摘要：
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一种深亚微米工艺条件下的Memory逻辑参数提取方法
逻辑参数
寄生参数
电路简化
适用于Flash Memory的负高压泵的实现
半导体技术
快闪存储器
电荷泵
负高压
三阱工艺
基于 Shared Memory 的多核算法处理系统及实现
多核处理平台
Shared Memory
离散余弦变换
FPGA
图像处理
内容分析
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文献信息
| 篇名 | Test your memory | ||
| 来源期刊 | 我爱学.英语(小学中高年级) | 学科 | 教育 |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2011,（11） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 21 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | G4 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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我爱学.英语(小学中高年级)
主办单位：
出版周期：
月刊
ISSN：
1673-8802
CN：
32-1776/G4
开本：
出版地：
南京湖南路1号凤凰广场10楼
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
750
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