基于PLL载频跟踪的电容式叶尖间隙测量技术

• 作者: 叶德超 段发阶 龙成
• 来源期刊: 天津大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 叶尖间隙 电容调频法 锁相环(PLL) 峰值采集
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 精密仪器与光电子工程
• 页码范围: 283-286
• 分类号: TP29|TN911.8
• 字数: 3223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0493-2137.2011.04.001

摘要

针对电容调频式叶尖间隙测量中存在的杂散电容问题和叶尖间隙信号的在线检测需求,设计了基于锁相环(PLL)载频跟踪的测量方案.方案中PLL无差载频跟踪环路能够有效地抑制杂散电容造成的缓慢载频漂移;选择1 MHz的中频频率将信号带宽提高到200kHz,并设计了峰值采集控制时序以提高系统测量效率;理论推导出并用实验数据验证了信号的非线性模型.模拟实验结果表明,测量系统灵敏度高,具备了高速在线检测能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段发阶	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	171	1929	23.0	36.0
2	叶德超	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	13	38	4.0	6.0
3	龙成	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	2	16	2.0	2.0