基于活动的产品研发过程技术风险识别建模

• 作者: 林桂娟 毛燕芬 陈明
• 来源期刊: 同济大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 产品 研发过程 技术风险 活动
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 电子电气与控制工程
• 页码范围: 731-737
• 分类号: TH166|F204
• 字数: 4769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-374x.2011.05.019

摘要

以研发过程的基本单元--研发活动作为分析对象,将复杂产品研发过程技术风险分解成活动内的技术风险和活动间的技术风险;通过活动的分解和活动内技术风险因素的识别,采用层次分析法计算出活动内的技术风险;从风险分析的角度,将活动间各种关系的技术风险归结为串联关系和独立关系的技术风险,建立活动间技术风险识别模型.目前该方法已运用于微电子装备的研发过程的技术风险识别中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈明	同济大学中德工程学院	183	1321	20.0	29.0
2	林桂娟	同济大学机械工程学院	6	148	6.0	6.0
3	毛燕芬	同济大学中德工程学院	1	13	1.0	1.0