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摘要:
介绍了X射线荧光光谱(XRF)法在镀层中的定性半定量分析方法,对检测步骤进行了详细探讨。该方法采用每个元素特有的2θ角来确定是否沉积上某种元素;利用FP法快速测定一组在不同浓度的电解液中电沉积所得镀层中的铜元素含量,结果表明该方法可以快速测定镀层中元素含量的变化,该方法具有测试准、投入少、易掌握、速度快等特点。对电镀液的调试以及科研具有实际指导意义
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文献信息
篇名 XRF在金属镀层定性半定量分析中的应用
来源期刊 现代科学仪器 学科 化学
关键词 X荧光光谱 镀层 半定量
年,卷(期) 2011,(4) 所属期刊栏目 分析测试技术和方法
研究方向 页码范围 93-94
页数 分类号 O657.3
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张旭 昆明理工大学冶金与能源学院 59 366 12.0 16.0
2 李韩璞 昆明理工大学冶金与能源学院 3 51 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
X荧光光谱
镀层
半定量
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代科学仪器
双月刊
1003-8892
11-2837/TH
大16开
北京海淀区西三环北路27号理化实验楼512室
1984
chi
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