基于STM32的电能质量检测技术研究

• 作者: 吴讯驰 李长俊 郑一维 陈尚松
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电能质量检测 内嵌式智能仪器 STM32微处理器
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 应用天地
• 页码范围: 72-74,78
• 分类号: TP2
• 字数: 3249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8978.2011.06.022

摘要

目前国内外已有多种检测电能质量的方法,介绍了一种基于ARM Cortex-M3内核的32位处理器STM32内嵌式智能仪器模式设计的方案.利用STM32内置A/D以及ATT7022B芯片对信号进行多通道采集,对各电能参数进行检测和分析.运用处理器自带的SD卡和USB接口对所测大量数据进行存储和传输,并通过彩色液晶屏实时显示所测数据,检测设备间通过2.4 G无线通信模块进行数据交换.实际运行表明该设备操作简单、技术指标完全符合国家相关标准,具有较好的应用、推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴讯驰	华南理工大学自动化科学与工程学院	1	60	1.0	1.0