TD-LTE系统终端邻道泄漏功率比的测试方法

• 作者: 唐恬 姜军 孙彦良 张治 王妮娜
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: LTE 邻道泄漏功率比(ACLR) 射频本振 数模变换(ADC)
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2357-2362
• 分类号: TN98
• 字数: 3040字
• 语种: 中文

摘要

LTE( long term evolution)及其后续演进已成为全球移动通信领域开发的热点.在LTE产业链中,终端射频测试是相对薄弱的环节；信道带宽的增大又对采样速率及硬件处理能力提出很高的要求,成为制约终端射频指标测试的瓶颈.在分析终端射频邻道泄漏功率比(adjacent channel leakage power ratio,ACLR)测试原理、测试方法及实现技术的基础上,提出一种通过修改测试仪表接收机射频本地振荡器频率来增大观测带宽、降低采样速率的测试方法.该测试方法具有很好的灵活性和可扩展性,大大降低测试成本,因此具有很大的市场应有价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜军	北京邮电大学信息与通信工程学院	11	69	5.0	8.0
3	王妮娜	北京邮电大学信息与通信工程学院	2	49	2.0	2.0
4	张治	北京邮电大学信息与通信工程学院	17	303	7.0	17.0
6	唐恬	北京邮电大学信息与通信工程学院	11	111	5.0	10.0
14	孙彦良	北京邮电大学信息与通信工程学院	1	14	1.0	1.0