代数重建和同步迭代重建在电容层析成像中的比较研究

• 作者: 方天驰 胡红利 陈夏 高享想
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 电容层析成像技术 图像重建 代数重建 同步迭代重建
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 页码范围: 25-29
• 分类号: TP183
• 语种: 中文

摘要

针对电容层析成像技术(ECT)中的逆问题--图像重建算法的非线性和病态性问题,以12电极电容层析成像系统为对象,研究了代数重建算法(ART)与同步迭代重建算法(SIRT).分别对仿真电容值和实测电容值进行图像重建的实验验证,从成像效果、相对误差及重建时间3个方面对这两种算法进行了评估与分析.结果表明,ART算法和SIRT算法均能有效地实现ECT图像重建,其中SIRT算法能够在100次迭代内达到高精度,在收敛速度和成像效果上更具有优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡红利	西安交通大学电气绝缘与电力设备国家重点实验室	40	316	10.0	16.0
2	陈夏	西安交通大学电气绝缘与电力设备国家重点实验室	6	45	4.0	6.0
3	高享想	西安交通大学电气绝缘与电力设备国家重点实验室	2	36	2.0	2.0
4	方天驰	西安交通大学电气绝缘与电力设备国家重点实验室	1	17	1.0	1.0