X波段高功率微波馈源辐射总功率阵列法测量技术

• 作者: 刘小龙 叶虎 周俊 崔新红 晏峰 杨猛 闫军凯
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 高功率微波 馈源 总功牢 测量 阵列法
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 高功率微波测量技术
• 页码范围: 3149-3153
• 分类号: O441.5
• 字数: 2002字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112311.3149

摘要

分析了采用阵列法测量高功率微波(HPM)馈源辐射总功率的相关技术环节.仿真计算了某型X带HPM馈源辐射场分布,设计了积分法测量辐射总功率的参数,并对积分总功率与端口 注入功率的关系以及积分方法引入的测量误差进行了计算.设计了由8路HPM辐射场功率密度测量系统组成阵列,对馈源辐射场功率密度进行测量,保证功率密度测量结果一致性和重复性.测量结果表明:多路测量系统测量波形相同,单路系统多次重复测量偏差在±0.1 dB内,多路测量系统对同一点辐射场功率密度测量偏差在±0.3dB 内,馈源热测E面方向图与冷测结果基本符合,积分总功率与等效辐射功率测量结果吻合较好.