光干涉甲烷测定器干涉条纹漂移及故障分析与处理

• 作者: 姚珍 邓光峰
• 来源期刊: 中国计量
• 学科: 工学
• 关键词: 干涉条纹漂移 甲烷测定器 故障分析 光干涉 空气折射率 空气室 仪器
• 年，卷（期）: 2011,（8）
• 所属期刊栏目: 技术篇
• 页码范围: 127-127
• 分类号: TD712.55
• 字数: 1360字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9364.2011.08.072

摘要

一、干涉条纹漂移（或称干涉条纹跑正、跑负）仪器干涉条纹漂移是由仪器空气室的空气折射率（na）和甲烷室被测气体的折射率（nc）变化引起的,产生的原因有以下几种：

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚珍		5	1	1.0	1.0
2	邓光峰		3	1	1.0	1.0