高功率微波对PCB电路系统辐照效应的仿真分析

• 作者: 张薇 杜正伟
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 高功率微波 半导体器件 SPICE模型 PCB电路 屏蔽腔
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 高功率微波发展、效应及相关技术
• 页码范围: 2841-2844
• 分类号: TN01
• 字数: 1815字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20112311.2841

摘要

以实验室自主研发的2维半导体器件-电路联合仿真程序用于分析高功率微波注入下半导体器件的毁伤机理,以此2维半导体器件-电路联合仿真程序为基础加以扩展,添加了电磁波辐照射下微带线的SPICE电路模型.扩展后的程序可以同时用于分析平面波入射下含半导体器件的PCB电路的高功率微波辐照效应和置于带孔缝屏蔽腔中的PCB电路的高功率微波辐照效应.应用此仿真程序分析了一个含有低噪声放大器的简单PCB电路,得到了该PCB电路在不同形式平面波入射下低噪声放大器的烧毁阈值,在该PCB电路置于屏蔽腔中时,低噪声放大器输入端口出现耦合干扰电压情况.