石英晶体动态电容的测试方法研究

• 作者: 刘桂礼 李东 王中宇 王艳林
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 石英晶体 动电容 相位偏移
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 39-40,43
• 分类号: TH873.7
• 语种: 中文

摘要

相位偏置法作为IEC推荐的石英晶体的动态电容标准测试方法,由于其对π网络制作工艺的严格要求,以及相位差精确测量的困难等原因,使得这种方法的实现比较困难,国内未见这方面的研究成果报道;介绍了相位偏置法测试石英晶体动态电容的方法,首次提出了主动补偿杂散电抗及石英晶体静电容C0所引起的附加相移的方法,降低了对π网络制作工艺的要求,同时也不需要为补偿C0所采用的补偿电路,使得相位偏移法更易于实现并推广使用;实验结果表明,本系统对石英晶体动态电容的测试精度可以达到±5%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王中宇		90	807	15.0	24.0
2	李东		55	144	7.0	8.0
3	王艳林		32	89	6.0	7.0
4	刘桂礼		42	134	6.0	9.0