阵列半导体激光器的单元均匀性与器件的质量关系

• 作者: 候建华 吴玉辉 安春爱 梁庆成 秦杰明 蒋大勇 赵建勋 高尚
• 来源期刊: 科技信息
• 关键词: 阵列半导体激光器 可靠性 导数技术
• 年，卷（期）: 2011,（35）
• 所属期刊栏目: 科教前沿
• 页码范围: 655-656
• 页数: 2页
• 字数: 1885字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9960.2011.35.509

摘要

本文通过电导数和光导数技术对阵列半导体激光器及单管并联模拟阵列进行了测试,通过对表征半导体激光器质量的h和Q参数的测试,研究了各单元器件均匀性与其组成的阵列器件的质量的关系.导数测试的h和Q参数可以给出阵列器件的均匀性,导数技术可以用来评价阵列半导体激光器的质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安春爱	长春理工大学材料科学与工程学院	13	75	4.0	8.0
2	秦杰明	长春理工大学材料科学与工程学院	19	32	3.0	5.0
3	蒋大勇	长春理工大学材料科学与工程学院	21	52	5.0	7.0
4	梁庆成	长春理工大学材料科学与工程学院	7	15	2.0	3.0
5	赵建勋	长春理工大学材料科学与工程学院	17	27	3.0	4.0
6	高尚	长春理工大学材料科学与工程学院	11	14	2.0	3.0
7	候建华	长春理工大学材料科学与工程学院	5	1	1.0	1.0