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摘要:
The enhanced optical absorption measured by Constant Photocurrent Method (CPM) of hydrogenated nanocrystalline silicon thin films is due mainly to bulk and/or surface light scattering effects. A new numerical method is presented to calculate both true optical absorption and scattering coefficient from CPM absorption spectra of nanotextured nano-crystalline silicon films. Bulk and surface light scattering contributions can be unified through the correlation obtained between the scattering coefficient and surface roughness obtained using our method.
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篇名 New Numerical Method to Calculate the True Optical Absorption of Hydrogenated Nanocrystalline Silicon Thin Films
来源期刊 纳米科学与工程(英文) 学科 物理学
关键词 Solution Hydrogenated NANOCRYSTALLINE Silicon Constant PHOTOCURRENT Method Optical Absorption Bulk Light Scattering Surface ROUGHNESS Film Thickness
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 O48
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Solution
Hydrogenated
NANOCRYSTALLINE
Silicon
Constant
PHOTOCURRENT
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Optical
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纳米科学与工程(英文)
季刊
2161-4954
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
出版文献量(篇)
121
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