作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
本书是一本论及各种常见试验中频繁出现的技术难题及人为误差的教材。作者I.R.Walker是剑桥大学卡文迪许(Cavendish)实验室研究员。主要致力于超低温条件下超导体及与其密切相关的电子材料的物理学研究,目前已在卡文迪许实验室工作20多年。
推荐文章
可靠性强化试验技术在科学仪器中的应用探讨
科学仪器
可靠性强化试验
总体思路
流程
光谱仪
软件可靠性及可靠性多模型综合研究
软件可靠性增长模型(SRGMs)
混合模型
模型聚类
可靠性框图在电子测压器可靠性分析中的应用
电子测压器
可靠性
可靠性框图
失效率
MTBF
可靠性强化试验在高可靠性产品设计中的应用
可靠性强化试验
机载高可靠产品
可靠性设计
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 科学研究中的可靠性
来源期刊 国外科技新书评介 学科 物理学
关键词 科学研究 可靠性 实验室工作 卡文迪许 超低温条件 人为误差 剑桥大学 电子材料
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 8
页数 1页 分类号 O4-09
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张文涛 中国科学院半导体研究所 81 379 9.0 19.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
科学研究
可靠性
实验室工作
卡文迪许
超低温条件
人为误差
剑桥大学
电子材料
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外科技新书评介
月刊
北京市海淀区中关村北四环西路33号
出版文献量(篇)
4046
总下载数(次)
93
总被引数(次)
0
论文1v1指导