氟化时间对环氧树脂绝缘表面电荷积累的影响

• 作者: 仓俊 刘亚强 安振连 张冶文 郑飞虎
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 环氧树脂绝缘 表面氟化时间 表面电荷积聚 表层电学特性
• 年，卷（期）: 2012,（15）
• 页码范围: 506-513
• 分类号: TQ323.5
• 语种: 中文

摘要

为抑制环氧树脂绝缘的表面电荷积累、研究处理时间对表面电荷积累的影响,使用氟/氮混合气在实验室反应釜中对环氧试样进行了不同时间（10 min,30 min和60 min）的表面氟化处理.衰减全反射红外分析与SEM断面和表面观察表明随氟化时间的增加,氟化层的氟化度和厚度增大,表面微观粗糙度降低、表面组织变得致密.与开路热刺激放电电流测量所表明的、未氟化（原）试样有深的表面电荷陷阱和稳定的表面电荷相比,这些氟化试样的表面不能存储电荷.沉积在它们表面上的电晕电荷于室温下分别约在2 min,10 min和15 min内快速衰减为零,展现随氟化时间的延长而减慢的电荷释放速率.表面电导率和接触角测量及表面能计算表明氟化引起表面电导率和表面润湿性与极性的显著增加,但它们随氟化时间的延长而减小.氟化试样表面电导率的显著增大归因于表面电荷陷阱的非常可能的实质变浅和表面吸附的水分.表面充电电流测量进一步地表明,与原试样几乎为零的稳态表面电流相比,这些氟化试样在连续充电期间显现大的稳态表面电流.这意味着这些氟化试样在充电期间比原试样有少得多的表面电荷积累.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑飞虎	同济大学物理系先进微结构材料教育部重点实验室	34	439	13.0	20.0
2	张冶文	同济大学物理系先进微结构材料教育部重点实验室	77	666	15.0	23.0
3	仓俊	同济大学物理系先进微结构材料教育部重点实验室	1	19	1.0	1.0