振动诱发金属微粒弹跳对圆盘绝缘子表面电荷积聚的影响

• 作者: 王文渠 高宇 赵慧存 苑晓晨 王欢
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 直流GIS/GIL 表面电荷 线形金属微粒 振动
• 年，卷（期）: 2023,（11）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 63-70
• 页数: 7页
• 分类号: TM216,TM835
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2022.11.010

摘要

绝缘子上积聚的表面电荷是影响直流GIS/GIL绝缘性能的关键因素，金属微粒对表面电荷的积聚具有重要影响。在GIS/GIL的运行过程中，设备振动诱发金属微粒弹跳从而改变电荷的积聚行为，威胁设备的绝缘安全。因此，研究振动诱发的金属微粒弹跳对表面电荷积聚的影响具有重要意义。本文以126 kV圆盘绝缘子为试样，搭建了非周期振动发生装置，测量了振动条件下线形金属微粒的运动轨迹及绝缘子表面电荷的积聚情况，分析了启举方式和微粒最终位置对绝缘子表面电荷积聚的影响。结果表明：微粒以先滚动后启举的方式比直接启举的方式导致表面电荷积聚更明显，并且微粒最终静止在交界区比静止在平面区积聚更多电荷。