不同温度下弹跳金属微粒对圆盘绝缘子表面电荷积聚的影响

• 作者: 赵慧存 高宇 王文渠 王欢 苑晓晨
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 气体绝缘设备 绝缘子 表面电荷 弹跳金属微粒 温度
• 年，卷（期）: 2022,（10）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 39-46
• 页数: 7页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2022.10.007

摘要

气体绝缘开关设备(GIS)和输电线路(GIL)中的金属微粒在电场作用下可弹跳至绝缘子附近，加剧表面电荷积聚，严重时会引发沿面闪络事故。选取126 kV圆盘绝缘子为试样，设计了同轴电极系统，采用Kelvin型静电探头研究了不同温度下（23、40、60℃）弹跳金属微粒对绝缘子表面电荷积聚特性的影响。结果表明：在室温下，绝缘子非平面区的电荷积聚模式与金属微粒的运动模式有着密切的关系；表面电荷积聚量与温度呈正相关；当温度上升至60℃时，运动到地电极垂直面的金属微粒易引发闪络，在与闪络同径向的非平面区会积聚大量的异极性电荷。