金属微粒和臭氧处理对GIS用盆式绝缘子闪络电压的影响

• 作者: 杨保利 王亚祥 田浩 袁端鹏 郝留成 钟建英 韩丽娟
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 盆式绝缘子 SF6 金属微粒 臭氧处理 标准雷电波 闪络电压
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 33-36,44
• 页数: 5页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.04.007

摘要

在SF6气氛中研究金属微粒和臭氧处理对110 kV气体绝缘金属封闭开关(GIS)盆式绝缘子闪络电压的影响.结果 表明:绝缘子沿着附着在其表面上的金属微粒发生闪络,闪络痕迹明显.绝缘子未经处理时,闪络电压随金属微粒长度的增加而迅速下降.金属微粒长度增加到8mm时,闪络电压下降趋势变缓.金属微粒靠近中心导体时,其对绝缘子闪络电压的影响较大.距中心导体0mm时,闪络电压最小.臭氧处理后的绝缘子与未处理的绝缘子呈现出相似的闪络特性,但处理后的绝缘子闪络电压提高了约18.5％.臭氧处理可以改善绝缘子表面的陷阱特性,加快绝缘子表面电荷消散速率,提高绝缘子的闪络电压.550 kV正极性雷电冲击波无法检测出微小金属微粒的存在,也无法检测出靠近中心导体或稍远区域金属微粒的存在.