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摘要:
利用石墨晶体预衍射X射线荧光法同时测定后处理工艺料液中的低浓铀和钚,建立了测定工艺料液中低浓铀和钚的分析方法.采用Ag靶散射线校正基体效应,以I(U)/Ic(Ag)-ρ(U)和Ⅰ(Pu)/Ic(Ag)-ρ(Pu)作校正曲线,铀和钚的质量浓度均在2.00~1000.00 mg/L时线性相关系数(r2)均大于0.999 0.测定结果表明U和Pu的精密度(Sr)均优于5%,U的相对误差小于3.0%,Pu的相对误差小于4.0%.
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文献信息
篇名 石墨晶体预衍射X射线荧光法同时测定工艺样品中的低浓铀和低浓钚
来源期刊 核化学与放射化学 学科 化学
关键词 石墨晶体预衍射X射线荧光法 U Pu
年,卷(期) 2012,(5) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 275-280
页数 6页 分类号 O614.352
字数 3648字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 牟凌 2 2 1.0 1.0
2 马精德 2 2 1.0 1.0
3 姜国杜 2 2 1.0 1.0
4 吉永超 1 2 1.0 1.0
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石墨晶体预衍射X射线荧光法
U
Pu
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期刊影响力
核化学与放射化学
双月刊
0253-9950
11-2045/TL
大16开
北京275信箱65分箱
82-162
1979
chi
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