X射线荧光法快速测定硅铝合金中的硅含量

• 作者: 李光平 董彦辉 郑庆瑜
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: X射线荧光法 硅铝合金 硅
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 21-22
• 页数: 2页
• 分类号: O6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2005.06.007

摘要

本文介绍采用X射线荧光法测定硅铝合金中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析.本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董彦辉	中国电子科技集团公司第四十六研究所	8	10	2.0	3.0
2	李光平	中国电子科技集团公司第四十六研究所	4	7	2.0	2.0
3	郑庆瑜	中国电子科技集团公司第四十六研究所	5	9	2.0	3.0