X射线对硅元素的测定和图谱分析

• 作者: 李芳 王少飞
• 来源期刊: 新课程
• 关键词: X射线衍射 硅元素 图谱分析 2θ d值
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 课堂内外
• 页码范围: 103-103,104
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

用X射线对硅元素进行测定，通过衍射①图谱分析及数据处理，再根据峰值测出2θ值。计算出对应的d值，与相应的理论值进行对比。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李芳		1	1	1.0	1.0
2	王少飞		3	4	1.0	2.0