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基于比色测温的光谱曲线校正
基于比色测温的光谱曲线校正
作者:
司洋
杨兆飞
王鉴
韩焱
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
比色测温法
三次样条插值
离散化曲线
带宽
摘要:
在CCD比色测温法中光谱曲线峰值大小决定滤光片的选取以及波长的选取.为了减小单色仪对光谱曲线标定造成的误差,最大程度还原曲线特性,论文用多种插值方法对曲线进行了校正,并对曲线进行了离散化,结果表明离散的三次样条插值法能够最大程度地还原光谱曲线.实验结果表明,把修正离散后的数据代入的比色测温公式中,计算所得的温度更接近真实温度,有效地降低了实验误差.
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比色测温原理
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基于面阵CCD比色测温方法的研究改进
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篇名
基于比色测温的光谱曲线校正
来源期刊
核电子学与探测技术
学科
工学
关键词
比色测温法
三次样条插值
离散化曲线
带宽
年,卷(期)
2012,(12)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
1446-1449
页数
4页
分类号
TK311
字数
2054字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
韩焱
中北大学电子测试技术国家重点实验室
268
1539
18.0
24.0
2
王鉴
中北大学电子测试技术国家重点实验室
33
306
8.0
16.0
3
杨兆飞
中北大学电子测试技术国家重点实验室
17
18
3.0
4.0
4
司洋
中北大学电子测试技术国家重点实验室
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核电子学与探测技术
主办单位:
中核(北京)核仪器厂
出版周期:
双月刊
ISSN:
0258-0934
CN:
11-2016/TL
开本:
大16开
出版地:
北京市经济技术开发区宏达南路3号
邮发代号:
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
9
总被引数(次)
21728
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