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摘要:
点缺陷构成的微腔对THz波调制器的性能起着决定性的作用。而在实际制作加工过程中,由于工艺的原因,光子晶体的结构参量会产生偏差,难以制备出孔径毫无偏差的光子晶体,且介质柱的放置位置不能达到完全精确,因此光子晶体器件的性能也因此会受到一定程度的影响。本文重点讨论了点缺陷介质柱的半径变化对直接耦合结构的THz波调制器性能的影响,为光子晶体调制器的实际制作和相应的误差分析提供了理论帮助。
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文献信息
篇名 点缺陷半径变化对光子晶体THz波调制器性能影响分析
来源期刊 现代科学仪器 学科 工学
关键词 复式晶格 光子晶体 直接耦合 太赫兹波 调制器
年,卷(期) 2012,(6) 所属期刊栏目 2012太赫兹科学仪器及前沿技术专题研讨会
研究方向 页码范围 40-41,45
页数 分类号 TH744.12
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 汪静丽 南京邮电大学光通信研究所 14 50 3.0 6.0
2 陈鹤鸣 南京邮电大学光通信研究所 140 617 14.0 18.0
3 季珂 南京邮电大学光通信研究所 8 12 2.0 2.0
4 赵新彦 南京邮电大学光通信研究所 11 40 5.0 6.0
5 宋丽军 南京邮电大学光通信研究所 4 9 1.0 3.0
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研究主题发展历程
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光子晶体
直接耦合
太赫兹波
调制器
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
现代科学仪器
双月刊
1003-8892
11-2837/TH
大16开
北京海淀区西三环北路27号理化实验楼512室
1984
chi
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