大型电子系统与其紧缩系统可靠性的相关性研究

• 作者: 张友兰 王亮亮 陈卫卫
• 来源期刊: 中国电子科学研究院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 大型系统 紧缩系统 可靠性相关 相关系数 计算方法
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 641-645
• 页数: 5页
• 分类号: TN956
• 字数: 4825字
• 语种: 中文

摘要

研究了大型电子系统与其紧缩系统可靠性指标之间相关关系。对功能冗余系统可靠性指标进行定性定量分析论证,经数学推导建立了二者之间的关系模型,得出相关方程。通过实例分析和工程计算,得到系统失效率与抽样试验样本量的关系图。应用最小二乘估计法估计紧缩系统与总体系统之间的相关系数,确定了大型电子系统与其紧缩系统之间的相关关系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈卫卫		5	4	1.0	1.0
2	王亮亮		6	2	1.0	1.0
3	张友兰		6	8	2.0	2.0